PCT蒸煮儀用 途：

 HAST Chamber又名HAST高壓加速壽命老化試驗(yàn)箱，用于車規(guī)級芯片，IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，測試其制品的密封性和老化性能。

應(yīng)用領(lǐng)域：

 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規(guī)級芯片……

PCT蒸煮儀特 點(diǎn)：

●真空泵浦設(shè)計(jì)(鍋爐內(nèi)空氣抽出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性；

●超長效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間，長時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺運(yùn)轉(zhuǎn)300小時(shí)；

●干燥設(shè)計(jì)，試驗(yàn)終止采真空干燥設(shè)計(jì)確保測試區(qū)(待測品)的干燥；

● 水位保護(hù)，透過爐內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù)；

●耐壓設(shè)計(jì)，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測試6k；

PCT蒸煮儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：

AEC Q101（車規(guī)級芯片）

JIS C0096-2

GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱

IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗(yàn).第2-66部分：試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱

JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命

JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗(yàn)（溫濕度偏壓壽命）

JESD22-A102高壓蒸煮試驗(yàn)（加速抗?jié)裥詽B透）

JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命

JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)

JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應(yīng)力實(shí)驗(yàn)UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

PCT蒸煮儀技術(shù)規(guī)格：